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USB Typ-C测试时间拉长 自动化量测方案看俏

USB Type-C连接器的特性之一是正反可插,这样的特性使设计较为「麻烦」,例如必须了解两面组件之间的交互作用等。 此外,对于测试而言,最显而易见的影响就是测试时间会拉长。太克(Tektronix)技术经理黄芳川指出,基本上,USB 3.1 Gen 1的物理层测试时间约需2.5分钟,USB 3.1 Gen 2约需10分钟,两者相加为12.5分钟,正反皆需测试就需要25分钟。 Type-C规格虽然是以USB 3.1 Gen 2为主,但当中其实仍有USB 3.1 Gen 1规格,因此两者皆需测试。不仅如此,Type-C和HDMI、DisplayPort等高速传输接口的整合,也增加设计及测试的困扰。 黄芳川进一步说明, Type-C的替代模式(Alt Mode)链接了多种高速传输接口,因此在测试设计中需多增一个控制器,才能在各种规格间切换。测试时间的拉长,也就更突显自动测试的必要性。 因此,太克已推出DisplayPort Type-C发射器测试方案,支持USB 3.1规格下的替代模式之一。 DisplayPort兼容性测试的最大挑战之一是测试时间极长,而此方案的全自动化程序能在不到6小时内完成全套DisplayPort Type-C兼容性测试,较其他竞争产品需耗费16小时能节省不少时间。据了解,此版本的关键特性之一是引入DPOJET量测软件,有助于分析待测物特性和进行除错。 也就是说,如果在兼容性测试期间发生测试失败,用户可进入DPOJET DisplayPort量测库,深入了解波形压到眼图屏蔽等问题,并查看预加重位准与电压摆幅之间的关系测试,以执行进阶分析。整体而言,进入USB 3.1 Gen 2的10Gbit/s高速传输时代,发射端(Tx)及接收端(Rx)测试皆面临更多及更新的挑战。 在发射端部分,业者必须确认自家生产的装置是否符合过去三个世代的USB规格,以及确保该装置能取得USB IF的认证,不会在兼容性方面出现问题。 而在接收端部分,重点就在于需进行抖动耐受度(Jitter Tolerance)及SSC测试。为了协助客户能够熟悉相关Tx及Rx测试,太克在近几个月频繁举办研讨会及训练课程,此外,分布在太克内的多间测试实验室也常见客户带着待测物前来取经,足见Type-C的热络。    
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